1. 前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率2. 各種樣品吸盤、夾具定制3. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）4、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置5、使用要求； 220V，50Hz ，去離子水
德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)3. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備） 圖為左右排列雙探頭，每個(gè)探頭各掃描1個(gè)6' Wafer 雙探頭掃描系統(tǒng)（雙探頭可左右排列或前后排列），成倍提高檢測(cè)效率
部分可選項(xiàng)： 1. 大水槽，深水槽定制；各種樣品吸盤、夾具定制2. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）3. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）使用要求；220V，50Hz ，去離子水如需更為詳細(xì)資料，敬請(qǐng)來電來函索取，如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。
部分可選項(xiàng)： 1. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)4．在不改變掃描機(jī)構(gòu)主體，升級(jí)為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統(tǒng)，成倍提高掃描效率4. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）5、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置使用要求；220V，50Hz ，去離子水備注：SAM 300 系列包含 SAM 301 HighTec 高端機(jī)型,SAM 301 UltraTec 超高速機(jī)型（雙馬達(dá)配置，掃描速度最高達(dá) 2000mm/s）SAM 300 B, SAM 301 HD2 等機(jī)型，根據(jù)具體配置予以細(xì)分，滿足不同用戶需求；歡迎您來電咨詢，我們會(huì)根據(jù)您的產(chǎn)品檢測(cè)需要，為您推薦最合適的機(jī)型和配置.設(shè)備如軟件、硬件升級(jí)， 相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。
部分可選項(xiàng)： 1. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2．前后雙工位系統(tǒng)，減少機(jī)器停頓時(shí)間，顯著提高工作效率3. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)4．在不改變掃描機(jī)構(gòu)主體，升級(jí)為雙探頭（左右排列或前后排列）、四探頭掃描系統(tǒng)，成倍提高掃描效率4. 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備）5、圓柱體、管材樣品檢測(cè)旋轉(zhuǎn)裝置
部分可選項(xiàng)： 1. 德國(guó) PVA Hibert Filter- 外置濾波器（軟件開關(guān)控制，用于110MHz 以上延遲性探頭使用）2. 各種樣品吸盤、夾具定制、半自動(dòng)化設(shè)備升級(jí)3 專業(yè)圖像處理與計(jì)算軟件（空洞率計(jì)算和顆粒度分析，不僅適用于超聲波掃描顯微鏡，同時(shí)可用于電鏡、光學(xué)顯微鏡、 共聚焦顯微鏡、 X-Ray 等眾多顯微檢測(cè)設(shè)備） 七 使用要求；220V，50Hz ，去離子水歡迎您來電咨詢，我們會(huì)根據(jù)您的產(chǎn)品檢測(cè)需要，為您推薦最合適的機(jī)型和配置.設(shè)備如軟件、硬件升級(jí)，相關(guān)參數(shù)會(huì)有所變更，請(qǐng)以生產(chǎn)廠家確認(rèn)為準(zhǔn)。