2013年，科視達(dá)® 攜手德國(guó) PVA TePla 在上海成立了亞洲最大的 德國(guó) PVA TePla 超聲波掃描顯微鏡 上海聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室，陳列有德國(guó) PVA TePla 三種不同規(guī)格型號(hào)的超聲波掃描顯微鏡主流機(jī)型，為廣大用戶提供現(xiàn)場(chǎng)看機(jī)服務(wù)，技術(shù)交流，及樣品外協(xié)測(cè)試服務(wù)，同時(shí)，德國(guó) PVA TePla 的專業(yè)技術(shù)人員會(huì)經(jīng)常來(lái)此為用戶進(jìn)行技術(shù)培訓(xùn)和講座。 如有樣品測(cè)試服務(wù)需求或批量外系測(cè)試服務(wù)需要，敬請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系我們各辦事處銷售人員。 超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 檢測(cè)的主要特性：非破壞性、無(wú)損傷檢測(cè)各種材料、元器件內(nèi)部缺陷可無(wú)損檢測(cè)各種 IC 器件、材料內(nèi)部缺陷（如裂紋、空氣分層、夾雜物、附著物、空洞、孔洞等）可分層掃描、多層掃描實(shí)施、直觀的圖像及分析缺陷的測(cè)量及百分比的計(jì)算 - 可精確定位內(nèi)部缺陷大小、面積與所在位置，并予以著色表示可顯示材料內(nèi)部的三維圖像該超聲波對(duì)人體無(wú)害超聲波掃描顯微鏡 SAM/SAT 的主要應(yīng)用領(lǐng)域 ( 不局限于）：半導(dǎo)體電子行業(yè)：集成電路IC 封裝器件、SMT 貼片器件、LTCC 器件、IGBT 功率器件、...
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2015
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