我司參加了2012年03月20-22日在上海浦東新國際展覽中心(Shanghai New InternationalExpo Centre)開展的SEMICON CHINA 2012 展會(huì)（展位號(hào):E3563 )。展會(huì)盛況空前, 參觀者絡(luò)繹不絕。　　
　　
　　
此次，我司展出了德國PVA公司生產(chǎn)制造的世界領(lǐng)先的雙探頭，雙工位超聲波掃描顯微鏡( SAM300 TWIN), 此臺(tái)機(jī)器一經(jīng)展出，便吸引了大量用戶，訪問者與現(xiàn)場(chǎng)德國資深專家展開熱烈探討,? 交流世界最新檢測(cè)技術(shù)。雙探頭，雙工位的超高工作效率，讓用戶耳目一新, 紛紛表示了濃厚的興趣和購買欲望。　

?

同時(shí)PVA 首次展出Auto Wafer 300 - 全自動(dòng)MEMS 晶圓超聲檢測(cè)系統(tǒng) （4 探頭），可進(jìn)行4-12‘?英寸?晶圓鍵合的全自動(dòng)超聲檢測(cè)：自動(dòng)對(duì)焦和掃描系統(tǒng)，自動(dòng)缺陷分析，并包括NG 樣品分類，包括自動(dòng)風(fēng)干和烘干裝置，?完成一片6?英寸 晶圓檢測(cè)只需2-5 分鐘 （4 探頭），驚艷全場(chǎng)。德國PVA 超聲技術(shù)的領(lǐng)先實(shí)現(xiàn)讓參觀者耳目一新 ！?