科視達(dá)? 攜手德國 PVA TePla & 德國Sentronics Metrology 參展2016 上海SEMICON

科視達(dá)?將攜手德國PVA TePla & 德國Sentronics Metrology參加?2016 年3 月15-17 日在“上海浦東新國際展覽中心”開展的SEMICON CHINA 2016?展會(huì)（展位號(hào):?N3?館- 3501展位?)。

此次，將展出德國PVA TePla 公司生產(chǎn)制造的具有世界領(lǐng)先HiSA技術(shù)的SAM 302 HD2?- 超高清、前后雙探頭超聲波掃描顯微鏡和超高速機(jī)型：SAM 300 UltraTec, 最快掃描速度2000mm/s.

德國PVA TePla 和科視達(dá)技術(shù)專家將在展會(huì)現(xiàn)場進(jìn)行操作演示和樣品測試。

同時(shí)將首次展出德國Sentronics Metrology（原ISIS ）的晶圓多層膜厚/平整度/弓形/翹曲/表面粗糙度測量設(shè)備 SemDex 301-21，歡迎攜帶晶圓樣品現(xiàn)場預(yù)約測試，以便更好了解設(shè)備的多功能與卓越性能。

誠摯歡迎各位蒞臨展會(huì)現(xiàn)場觀摩和技術(shù)交流！相信一定會(huì)令您不虛此行！